基本信息
| 标准名称： | 银或银合金包套铋系氧化物超导体直流临界电流的测定 |
| 英文名称： | The DC critical current measurement for Ag or Ag-alloy sheathed bismuthal oxide superconductor |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 电子设备专用材料、零件、结构件 >> 电子技术专用材料 |
| ICS分类： | |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 |
| 发布日期： | 2001-01-01 |
| 实施日期： | 2002-05-01 |
| 首发日期： | 2001-11-05 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 中国科学院 |
| 归口单位： | 全国超导标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 西北有色金属研究院 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2004-04-17 |
| 页数： | 平装16开， 页数：9， 字数：14千字 |
| 书号： | 155066.1-18298 |
适用范围
本标准规定了银或银合金包套铋系氧化物超导体短样品在零外场和液氮温度（77K）附近进行直流临界电流的测定。被测样品应为简单带材或圆线，而非编织带或缆线。所含超导材料既可以是Bi-2223也可以为Bi-2212，其在样品截面上的分布既可是单芯的结构，也可为多芯的结构。本标准适用于临界电流小于200A，n值大于10的超导短样品临界电流的测定。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 电子设备专用材料 零件 结构件 电子技术专用材料